Информационно-управляющая система для производства

Проблема повышения эффективности управления производством становится особенно актуальной в условиях перехода к рыночным отношениям. Эта проблема связана с проведением комплексных исследований механизмов функционирования предприятия по организации выпуска продукции и ее сбыта в условиях неопределенности и ограничений по ресурсам методом имитационного (компьютерного) моделирования, а также исследований механизмов принятия решений по управлению этими процессами с использованием модельных результатов. Сложность управления производством определяется многофункциональностью производственной системы, наличием неопределенностей при описании производства как объекта управления, а также при выборе управляющих воздействий. Разработанная информационно-управляющая система (ИУС) выполняет следующие функции: планирование производства; моделирование производственно-сбытовой деятельности предприятия; моделирование конкурентной рыночной среды; формирование рекомендаций по управлению процессами производства и реализации продукции при активном участии конкурентов. Данная ИУС содержит подсистему имитационного моделирования динамики процессов производства и сбыта продукции, функциональные блоки, обеспечивающие сбор, накопление и хранение данных в базах знаний, а также подсистему поддержки принятия решений по управлению производством в условиях рыночной среды. Информационно-управляющая система реализована в среде Delph и требует наличия операционной системы MS Wndows 98/2000, библиотеки BDE; локальной вычислительной сети, соединенной протоколом TCP/P. Предлагаемая информационно-управляющая система обеспечивает поддержку принятия решений по управлению процессами производства и реализации продукции в конкурентных условиях рынков сбыта и рынков ресурсов на основе результатов имитационного моделирования производственно-сбытовой деятельности предприятия.
Автором разработана технология двухстороннего химико-механического полирования (ДХМП) пластин кремния, обеспечивающая возможно сть использования таких пластин в технологии получения СБИС с минимальным топологическим размером элементов 0,35мкм. Считается, что после ХМП должен формироваться бездефектный приповерхностный слой (без трещин, дислокаций и дальнодействующих полей деформации). Столь жёсткие требования обусловливают необходимость определения толщины и структуры приповерхностного слоя в пластинах кремния после ХМП. Для оценки глубины приповерхностных повреждений применили методику осесимметричного изгиба, а структуру повреждений характеризовали по поверхностной плотности окислительных дефектов упаковки (ОДУ). Глубину приповерхностных повреждений оценивали по максимальной величине критического размера трещины. Данные по глубине повреждений и плотности ОДУ после. Используя эффект локального плавления можно добиться направленного изменения профиля облучаемой поверхности. ИК - нагрев также как и нагрев при помощи лазера является тепловым, но обладает много меньшей мощностью, вследствие не когерентности. Однако, исходя из сходства картин состояния поверхности в том и в другом случае воздействия, в работе был также проведен анализ энерго-импульсной модификации поверхности исследуемых образцов под воздействием инфракрасного нагрева.

Разделы / Производство